Drukuj

Wyszukano: LEICA MICROSYSTEMS


204  wyniki/ów wyszukiwania

Doprecyzuj wyniki Sortuj

Sort Results

Widok listy Widok uproszczony (nowość)
SearchResultCount:"204"

Oceń wyniki wyszukiwania

Product Image-630-3537

Mikroskop, Stereoskopowy, Obuoczny, Ivesta 3 (C-mount) set

Opis: Mikroskop, Stereoskopowy, Obuoczny, Ivesta 3 (C-mount) set
Numer katalogowy: 630-3537
j.m.: 1 * 1 SET
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3538

Mikroskop, Stereoskopowy, Obuoczny, Ivesta 3 (integrated camera) set

Opis: Mikroskop, Stereoskopowy, Obuoczny, Ivesta 3 (integrated camera) set
Numer katalogowy: 630-3538
j.m.: 1 * 1 SET
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM30221015

Cold light source

Opis: Cold light source
Numer katalogowy: LEIM30221015
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS

New Product


Product Image-LEIM11556036

N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Odległość robocza: 11,2 mm

Opis: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Odległość robocza: 11,2 mm
Numer katalogowy: LEIM11556036
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556061

HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 12 mm

Opis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 12 mm
Numer katalogowy: LEIM11556061
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556511

HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 12 mm

Opis: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 12 mm
Numer katalogowy: LEIM11556511
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556065

HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,36 mm

Opis: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,36 mm
Numer katalogowy: LEIM11556065
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556060

HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Odległość robocza: 18 mm

Opis: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Odległość robocza: 18 mm
Numer katalogowy: LEIM11556060
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556071

HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 0,92 mm

Opis: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 0,92 mm
Numer katalogowy: LEIM11556071
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506525

HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,18 mm

Opis: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,18 mm
Numer katalogowy: LEIM11506525
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506382

HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,4 mm

Opis: HC PLAN FLUOTAR 40×/0,80 NA; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,4 mm
Numer katalogowy: LEIM11506382
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506217

HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Odległość robocza: 2,6 - 1,8 mm

Opis: HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Odległość robocza: 2,6 - 1,8 mm
Numer katalogowy: LEIM11506217
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506519

HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 1,2 mm

Opis: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 1,2 mm
Numer katalogowy: LEIM11506519
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,36 mm

Opis: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,36 mm
Numer katalogowy: LEIM11506097
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,3 mm

Opis: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,3 mm
Numer katalogowy: LEIM11506386
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506083

N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Odległość robocza: 11,2 mm

Opis: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Odległość robocza: 11,2 mm
Numer katalogowy: LEIM11506083
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
33 - 48 of 204