Drukuj

Wyszukano: Obiektywy+do+mikroskopów


222 868  wyniki/ów wyszukiwania

Doprecyzuj wyniki Sortuj

Sort Results

Widok listy Widok uproszczony (nowość)
SearchResultCount:"222868"

Oceń wyniki wyszukiwania

Product Image-630-1977

Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 20×/0,40, Odległość robocza: 5,1 mm

Opis: Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 20×/0,40, Odległość robocza: 5,1 mm
Numer katalogowy: 630-1977
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: VWR Collection
Product Image-630-1978

Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 40×/0,65, Odległość robocza: 0,55 mm

Opis: Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 40×/0,65, Odległość robocza: 0,55 mm
Numer katalogowy: 630-1978
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: VWR Collection
Product Image-630-1976

Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 10×/0,25, Odległość robocza: 10 mm

Opis: Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 10×/0,25, Odległość robocza: 10 mm
Numer katalogowy: 630-1976
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: VWR Collection
Product Image-630-1979

Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 100×/1,25 (i), Odległość robocza: 0,13 mm

Opis: Obiektyw kontrastu fazowego IOS W-Plan, VWR®, PH 100×/1,25 (i), Odległość robocza: 0,13 mm
Numer katalogowy: 630-1979
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: VWR Collection
Image Unavailable-LEIM10450192

Achromat objective, M60 thread, 0,50×, Odległość robocza: 188,5 mm

Opis: Achromat objective, M60 thread, 0,50×, Odległość robocza: 188,5 mm
Numer katalogowy: LEIM10450192
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM11506226

HI PLAN achromatic objective, 4×/0,10, Odległość robocza: 18 mm

Opis: HI PLAN achromatic objective, 4×/0,10, Odległość robocza: 18 mm
Numer katalogowy: LEIM11506226
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM11506230

HI PLAN phase objective PH1, 10×/0,25, Odległość robocza: 12 mm

Opis: HI PLAN phase objective PH1, 10×/0,25, Odległość robocza: 12 mm
Numer katalogowy: LEIM11506230
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM11506228

HI PLAN achromatic objective, 10×/0,25, Odległość robocza: 12 mm

Opis: HI PLAN achromatic objective, 10×/0,25, Odległość robocza: 12 mm
Numer katalogowy: LEIM11506228
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM11506238

HI PLAN achromatic objective, 40×/0,65, Odległość robocza: 0,35 mm

Opis: HI PLAN achromatic objective, 40×/0,65, Odległość robocza: 0,35 mm
Numer katalogowy: LEIM11506238
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Image Unavailable-LEIM11506278

HI PLAN phase objective PH1, 20×/0,40, Odległość robocza: 0,92 mm

Opis: HI PLAN phase objective PH1, 20×/0,40, Odległość robocza: 0,92 mm
Numer katalogowy: LEIM11506278
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506241

HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Odległość robocza: 0,1 mm

Opis: HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Odległość robocza: 0,1 mm
Numer katalogowy: LEIM11506241
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3368

HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Odległość robocza: 11,7 mm

Opis: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Odległość robocza: 11,7 mm
Numer katalogowy: 630-3368
j.m.: 1 * 1 Szt.
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11556060

HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Odległość robocza: 18 mm

Opis: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Odległość robocza: 18 mm
Numer katalogowy: LEIM11556060
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506276

HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 0,92 mm

Opis: HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 0,92 mm
Numer katalogowy: LEIM11506276
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,3 mm

Opis: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,3 mm
Numer katalogowy: LEIM11506386
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506321

N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Odległość robocza: 0,14 mm

Opis: N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Odległość robocza: 0,14 mm
Numer katalogowy: LEIM11506321
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
177 - 192 of 222 868