Drukuj

Wyszukano: Obiektywy do mikroskopów

Obiektywy mikroskopowe są kluczowym elementem każdego systemu mikroskopowego, zaprojektowane do precyzyjnego skupiania światła i tworzenia obrazów o wysokiej rozdzielczości próbek. Bez względu na to, czy są używane do celów edukacyjnych, badań klinicznych, czy zaawansowanych badań naukowych, wybór odpowiedniego obiektywu jest kluczowy dla zwiększenia powiększenia i klarowności. Wysokowydajne obiektywy z optymalną aperturą numeryczną mogą znacznie poprawić jakość obrazu, zaspokajając potrzeby profesjonalistów w dziedzinach takich jak biologia komórkowa, diagnostyka medyczna i nauka o materiałach. Inwestowanie w najwyższej jakości obiektywy mikroskopowe zapewnia uchwycenie każdego szczegółu z niezrównaną precyzją, spełniając surowe wymagania nowoczesnej mikroskopii.

Obiektywy mikroskopowe są kluczowym elementem każdego systemu mikroskopowego, zaprojektowane do precyzyjnego skupiania światła i tworzenia obrazów o wysokiej rozdzielczości próbek. Bez względu na to, czy są używane do celów edukacyjnych, badań klinicznych, czy zaawansowanych badań naukowych, wybór odpowiedniego obiektywu jest kluczowy dla zwiększenia powiększenia i klarowności. Wysokowydajne obiektywy z optymalną aperturą numeryczną mogą znacznie poprawić jakość obrazu, zaspokajając potrzeby profesjonalistów w dziedzinach takich jak biologia komórkowa, diagnostyka medyczna i nauka o materiałach. Inwestowanie w najwyższej jakości obiektywy mikroskopowe zapewnia uchwycenie każdego szczegółu z niezrównaną precyzją, spełniając surowe wymagania nowoczesnej mikroskopii.


297  wyniki/ów wyszukiwania

Doprecyzuj wyniki Sortuj

Sort Results

Widok listy Widok uproszczony (nowość)
SearchResultCount:"297"

Oceń wyniki wyszukiwania

Product Image-LEIM11506386

HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,3 mm

Opis: HI PLAN 100×/0,80; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,3 mm
Numer katalogowy: LEIM11506386
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3310

HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 17,7 mm

Opis: HI PLAN objective CY 10×/0,25 NA PH1; BF, PH, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 17,7 mm
Numer katalogowy: 630-3310
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506321

N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Odległość robocza: 0,14 mm

Opis: N PLAN 50×/0,9 NA oil; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 50×, Odległość robocza: 0,14 mm
Numer katalogowy: LEIM11506321
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506273

HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH2; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 2 mm

Opis: HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH2; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 2 mm
Numer katalogowy: LEIM11506273
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3302

HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Odległość robocza: 13,9 mm

Opis: HI PLAN phase 4×/0,10 NA PH0; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Odległość robocza: 13,9 mm
Numer katalogowy: 630-3302
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3301

N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 3,3 - 1,9 mm

Opis: N PLAN L phase 40×/0,55 NA PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 3,3 - 1,9 mm
Numer katalogowy: 630-3301
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3305

HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 2 mm

Opis: HI PLAN phase 40×/0,50 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 2 mm
Numer katalogowy: 630-3305
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3303

HI PLAN phase 10×/0,22 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 7,8 mm

Opis: HI PLAN phase 10×/0,22 NA PH1; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 7,8 mm
Numer katalogowy: 630-3303
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3304

HI PLAN phase 20×/0,30 NA PH1; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 3 mm

Opis: HI PLAN phase 20×/0,30 NA PH1; BF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 3 mm
Numer katalogowy: 630-3304
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3309

HC PLAN FL L 40×/0,60 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 40×, Odległość robocza: 3,3 - 1,9 mm

Opis: HC PLAN FL L 40×/0,60 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 40×, Odległość robocza: 3,3 - 1,9 mm
Numer katalogowy: 630-3309
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506241

HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Odległość robocza: 0,1 mm

Opis: HI PLAN phase objective OIL PH3, 100×/1,25, Odległość robocza: 0,1 mm
Numer katalogowy: LEIM11506241
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506236

HI PLAN achromatic objective, 40×/0,65 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,35 mm

Opis: HI PLAN achromatic objective, 40×/0,65 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Odległość robocza: 0,35 mm
Numer katalogowy: LEIM11506236
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3189

N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 17,7 mm

Opis: N PLAN 10×/0,25 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Odległość robocza: 17,7 mm
Numer katalogowy: 630-3189
j.m.: 1 * 1 Szt.
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-630-3188

N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 6,9 mm

Opis: N PLAN L 20×/0,35 NA PH1; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 6,9 mm
Numer katalogowy: 630-3188
j.m.: 1 * 1 Szt.
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506158

N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,12 mm

Opis: N PLAN 100×/1,25 NA oil; BF, DF, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Odległość robocza: 0,12 mm
Numer katalogowy: LEIM11506158
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
Product Image-LEIM11506096

N PLAN 20×/0,40 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 0,39 mm

Opis: N PLAN 20×/0,40 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Odległość robocza: 0,39 mm
Numer katalogowy: LEIM11506096
j.m.: 1 * 1 SZT
Producent: LEICA MICROSYSTEMS
177 - 192 of 297